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    数字电桥、电池测试仪、电容测试仪

    电容测试仪
    ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪

    ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪

    ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪:使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz,最小分辨率1mHz,基本测量精度可达0.05%。主要用于测试半导体器件PN结的势垒. . .

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    简要说明 / INSTRUCTIONS

    ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪:使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz,最小分辨率1mHz,基本测量精度可达0.05%。

    主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外,还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率,又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。

    本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss,输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。

    性能特点 / PERFORMANCE

    自动平衡电桥技术

    ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理,把以往简易的测量运放改进成:Lpot检零电路,0度90度数字检相及调制解调电路,Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好的抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。



    主要测量页面

    202109230910212425


    202109230910332412


    配备多种接口


    技术参数 / PARAMETER

    测量参数

    CLXBRGDQESRRpθ|Z||Y|

    测量电平

    0.005-20Vrms(<=1MHz)

    0.005-15Vrms(>1MHz)

    基本准确度

    0.05%, 具体见公司相关企业标准

    测量速度

    快速:100/秒、中速20秒、慢速6/

     

     

     

     

     

     

    |Z|,R,X

    0.01 mΩ99.9999MΩ

    |Y|G B

    0.00001μS99.9999S

    C

    0.00001pF9.99999F

    D

    0.000019.99999

    L

    0.00001μH99999.9H

    Q

    0.0199999.9

    θ(RAD)

    -3.141593.14159

    θ(DEG)

    -179.999 °179.999°

    Δ%

    -999.999%999.999%

    内部直流

    偏置电压 

    可选配±100mA-40V+40V

    量程方式

    自动、保持

    触发方式

    内部、手动、自动、外部、总线

    校准功能

    开路/短路、扫频清零、点频清零

    等效电路

    串联、并联

    比较器

    十档分选,BIN0BIN9NGAUX

    PASSHILOW(PASS/FAILLED显示)

    接口

    RS232CUsbHostUSB DeviceHandlerGPIB(选件)

    温度湿度

    040,相对湿度≤75%

    电源要求

    100120 Vac198242 Vac

    4664 Hz,功率大于75 VA

    体积(WxHxD)

    400mmx132mmx410mm

    重量(净重)

    8.5Kg


    订购信息 / ORDER

    ●ZX38-CV:20Hz-1MHz 半导体C-V特性测试仪

    ●ZX38A-CV:20Hz-2MHz 半导体C-V特性测试仪

     性能特点

    ●自动平衡技术电桥,4端对开尔文测试端

    ●提供内部直流偏压-40V~+40V

    ●简体中文、英文操作语言

    ●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能

    ●进行测试数据、测试条件保存(U盘或内部)

    ●绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能

    ●加强的测试端保护功能

    ●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN(选件)等上位机连接接口


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